2018年 受賞者と受賞研究内容
テーマ
半導体製造プロセスにおける先端分析・計測技術
受賞者と研究内容
2018堀場雅夫賞 概要
2018年応募要領パンフレット(PDF版)2018堀場雅夫賞 審査委員 (敬称略、順不同)
- 審査委員長
金山 敏彦 産業技術総合研究所 フェロー
- 審査委員
白谷 正治 九州大学 システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
主幹教授寺本 章伸 東北大学 未来科学技術共同研究センター 未来情報産業研究館 教授 渡邊 健夫 兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所 所長 教授
- 海外審査委員
Srini Raghavan Professor, Materials Science and Engineering,
University of Arizona （米国）
- 社内審査委員
井上 正規 株式会社 堀場エステック 開発本部 福知山テクノロジーセンター
センター長藤井 哲雄 株式会社 堀場エステック 事業戦略室
※ 所属、役職等は授賞式当時のものです
授賞式
2018年10月17日（水）に京都大学芝蘭会館において
