2005年 受賞者と受賞研究内容
テーマ
赤外線計測関連技術
受賞者と研究内容
2005堀場雅夫賞 審査委員 (敬称略、順不同)
- 名誉審査委員長
堀場 雅夫 株式会社堀場製作所 最高顧問
- 審査委員長
堀場 厚 株式会社堀場製作所 代表取締役会長兼社長
- 副審査委員長
川崎 昌博 京都大学 地球環境学堂 工学研究科分子工学専攻 教授
- 審査委員
尾崎 幸洋 関西学院大学 理工学部化学科 教授 斉藤 光徳 龍谷大学 理工学部電子情報学科 教授 舟窪 浩 東京工業大学大学院総合理工学研究科 物質科学創造専攻 助教授 Giuseppe Zerbi Professor, Material Science,
Department of Industrial Chemistry and Chemical Engineering,
Politecnico of Milano（イタリア）
- 特別審査委員
南 茂夫 大阪大学 名誉教授 R. K. Hanson Professor, Department of Mechanical, Faculty of Thermosciences,
Stanford University(米国)
- 社内審査委員
足立 正行 株式会社 堀場製作所 エンジン計測システム統括部長 内原 博 株式会社 堀場製作所 分析センター センター長
※ 所属、役職等は授賞式当時のものです