2015年 受賞者と受賞研究内容
テーマ
ナノ粒子計測
受賞者と研究内容
2015堀場雅夫賞 概要
2015堀場雅夫賞 審査委員 (敬称略、順不同)
- 名誉審査委員長
堀場 雅夫 株式会社堀場製作所 最高顧問
- 審査委員長
堀場 厚 株式会社堀場製作所 代表取締役会長兼社長
- 副審査委員長
綿野 哲 大阪府立大学大学院 工学研究科 物質・化学系専攻 教授
- 審査委員
秋吉 一成 京都大学大学院工学研究科 高分子化学専攻 教授 大谷 吉生 金沢大学 理工研究域 自然システム学系
学長補佐 国際機構副機構長 教授藤本 俊幸 産業技術総合研究所 計測標準研究部門
副研究部門長 兼 ナノ材料計測科長
- 海外審査委員
Reginald M. Penner Chairman and Chancellor's Professor of Chemistry,
University of California, Irvine (米国)
- 社内審査委員
保田 芳輝 株式会社 堀場製作所 開発本部 アプリケーション開発センター 部長 山口 哲司 株式会社 堀場製作所 開発本部 アプリケーション開発センター
※ 所属、役職等は授賞式当時のものです
授賞式
2015年10月16日(金)に京都大学芝蘭会館において