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2015年 受賞者と受賞研究内容

テーマ

ナノ粒子計測

受賞者と研究内容

2015堀場雅夫賞 概要

2015堀場雅夫賞 審査委員 (敬称略、順不同)

  • 名誉審査委員長
    堀場 雅夫 株式会社堀場製作所 最高顧問

  • 審査委員長
    堀場 厚 株式会社堀場製作所 代表取締役会長兼社長

  • 副審査委員長
    綿野 哲 大阪府立大学大学院 工学研究科 物質・化学系専攻 教授

  • 審査委員
    秋吉 一成 京都大学大学院工学研究科 高分子化学専攻 教授
    大谷 吉生 金沢大学 理工研究域 自然システム学系
    学長補佐 国際機構副機構長 教授
    藤本 俊幸 産業技術総合研究所 計測標準研究部門
    副研究部門長 兼 ナノ材料計測科長

  • 海外審査委員
    Reginald M. Penner Chairman and Chancellor's Professor of Chemistry,
    University of California, Irvine (米国)

  • 社内審査委員
    保田 芳輝 株式会社 堀場製作所 開発本部 アプリケーション開発センター 部長
    山口 哲司 株式会社 堀場製作所 開発本部 アプリケーション開発センター

※ 所属、役職等は授賞式当時のものです

授賞式

2015年10月16日(金)に京都大学芝蘭会館において

受賞アーカイブ