2009年 受賞者と受賞研究内容
テーマ
半導体および関連分野における材料表面の高感度・非破壊分析計測技術
受賞者と研究内容
2009堀場雅夫賞 概要
2009年応募要領パンフレット(PDF版)2009堀場雅夫賞 審査委員 (敬称略、順不同)
- 名誉審査委員長
堀場 雅夫 株式会社堀場製作所 最高顧問
- 審査委員長
堀場 厚 株式会社堀場製作所 代表取締役会長兼社長
- 副審査委員長
合志 陽一 筑波大学 監事 国際高等研究所 フェロー
- 審査委員
澤田 嗣郎 独立行政法人科学技術振興機構 開発総括
東京大学 名誉教授辻 幸一 大阪市立大学大学院工学研究科 教授 石田 英之 株式会社東レリサーチセンター
代表取締役副社長 研究部門長
- 海外審査委員
Dr. George Thompson OBE FREng, Deputy Head of the School of Materials,
The University of Manchester （英国）
- 社内審査委員
原 清明 株式会社堀場エステック 取締役 中 庸行 株式会社堀場製作所 半導体システム開発部
※ 所属、役職等は授賞式当時のものです
授賞式
2009年10月19日（月)に京都大学芝蘭会館において
