堀場雅夫賞について

堀場雅夫賞はHORIBAグループが創立50周年を迎えた2003年5月に、創業者である堀場雅夫の名を冠して創設した社外対象の研究奨励賞です。

本賞は、画期的な分析・計測技術の創生が期待される研究開発に従事する国内外の研究者・技術者を支援し、科学技術における計測技術の地位をより一層高めることに貢献しようというもの。分析・計測技術の中でも、堀場製作所が育んできた原理や要素技術を中心に毎年対象テーマを定め、ユニークで、かつその成果や発展性を世界にアピールすべき研究・開発にスポットを当てていきます。また助成金の給付にとどまらず、受賞研究の実用化を支援するのも本賞の大きな特長です。

最先端の科学技術を支える分析・計測技術の研究に従事され、将来の分析・計測技術発展の担い手となられる皆さまの積極的な応募を期待しています。

堀場雅夫賞募集にあたって

堀場雅夫賞は、「分析・計測」技術を対象として、2003年に設立されました。物質の組成や性質を解明すること、さまざまな現象の意味や影響を把握すること ― それはまさに科学の第一歩であり、科学技術や産業発展のための基本的アプローチです。それらのさらなる探究や革新のため、分析・計測技術は必要不可欠なものです。堀場製作所創業者・堀場雅夫の名前を冠した本賞が、分析・計測分野で活躍されている研究者の方々の功績を、分析・計測の重要性とともに広く世に知らしめてくれることを願い、皆様からの応募をお待ちしております。

株式会社 堀場製作所
代表取締役会長兼社長
堀場 厚

堀場 厚

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