2006年 受賞者と受賞研究内容
テーマ
X線計測関連技術
受賞者と研究内容
2006堀場雅夫賞 審査委員 (敬称略、順不同)
- 名誉審査委員長
堀場 雅夫 株式会社堀場製作所 最高顧問
- 審査委員長
堀場 厚 株式会社堀場製作所 代表取締役会長兼社長
- 副審査委員長
合志 陽一 東京大学 名誉教授
- 審査委員
河合 潤 京都大学大学院 工学研究科 材料工学専攻 教授 谷口 一雄 大阪電気通信大学大学院 工学研究科 総合電子工学専攻 教授 中井 泉 東京理科大学 理学部 応用化学科 教授 中澤 弘基 独立行政法人 物質・材料研究機構 フェロー
- 海外審査委員
George J. Havrilla Los Alamos National Laboratory.
Chemistry Division, Analytical Chemistry Sciences
- 社内審査委員
大堀 謙一 株式会社堀場製作所 科学システム統括部 統括部長 駒谷 慎太郎 株式会社堀場製作所 科学システム統括部 XGTﾌﾟﾛｼﾞｪｸﾄ
ﾌﾟﾛｼﾞｪｸﾄﾏﾈｰｼﾞｬｰ
※ 所属、役職等は授賞式当時のものです
授賞式
2006年10月17日（火)に京都大学芝蘭会館において
